Zad. 2 Elektronika - kontrolowane starzenie komponentów - Apator


Przedstawić w oparciu o dowolny komponent lub grupę komponentów elektronicznych metodę kontrolowanego ich starzenia w celu określenia żywotności. Dla wybranego komponentu lub urządzenia i przykładowych danych technicznych lub karty katalogowej komponentu określić czas trwania próby, sposób jej realizacji oraz kryterium oceny.

Przedstawić przykładowe wyliczenia oraz algorytm przeprowadzenia kontrolowanej próby starzeniowej.

Przedstawić słabe punkty wybranego komponentu, urządzenia lub zestawu komponentów.

W zadaniu punktowany będzie dobór komponentu do analizy. Oczekuje się wyboru komponentów bardziej podatnych na zmiany starzeniowe niż typowe elementy elektroniczne (np. rezystory).

 

Odpowiedzi na pytania i dodatkowe komentarze:

1. Jakie stosuje się techniki starzenia komponentów elektronicznych w celu określenia ich czasu życia w urządzeniu elektronicznym?

2. Jakie parametry klimatyczne wpływają i jak intensywnie na przyspieszenie tego procesu? Mile widziane podanie wzorów. Opis również akceptowalny.

3. Jak dobrać parametry próby aby jej czas był krótszy niż naturalny cykl życia?

4. Które elementy elektroniczne lub podzespoły są bardziej wrażliwe na czynniki klimatyczne a tym samym powinno się dla nich przeprowadzać próbę starzeniową?

5. W jaki sposób czynniki klimatyczne mogą uszkodzić elementy elektroniczne i jak dobrać parametry próby aby rzetelnie ocenić naturalne starzenie się komponentu?

 

Jeśli potrzebujesz dodatkowych informacji albo wyjaśnień możesz zadać pytanie wysyłając e-mail na adres: konkurs(at)strefainzyniera.pl.  

 


Zarejestruj się albo zaloguj aby dodać komentarz


Brak komentarzy.
« Zad. 1 Elektronika - tester jakości baterii - ApatorZad. 3 Mechanika - plombowanie obudowy urządzenia - Apator »

 

Podziel się ze znajomymi tym artykułem - udostępnij na FB lub wyślij e-maila korzystając z poniższych opcji:

 

wszystkie oferty

 

 

 

 
 
 

Kalendarz wydarzeń

WSZYSTKIE WYDARZENIA